X-ray Fluorescence (XRF)는 조성 분석 및 Elemental Mapping에 가장 많이 활용되는

분석 기술의 하나입니다.

유사한 분석 기술인 SEM-EDX 대비 XRF는 수십 ~ 수백 배 우수한 측정 감도를 가지고 있으며, LA-ICP-MS 대비해서는 비파괴 특성과 더불어 Matrix effect를 배제시킬 수 있어 정량적인 면에서 장점을 가지고 있습니다.

AttoMap은 Sigray사 특허인 FAAST(Fine Array Anode Source Technology)와

Twin Parabolic micro를 사용하여 Micro XRF 중에서도 감도 및 Mapping 공간분해능이

수십 ~ 수백배 향상된 기능을 가집니다.

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